ZVIDITELŇUJEME
ATOMY
|
|
Úvod | |
V roce 1981 byl vynalezen první rastrovací tunelový mikroskop, který umožnil pozorování reálného povrchu vzorku s rozlišením jednotlivých atomů. Jeho tvůrci, pánové G. Binning a H. Rohrer, za to brzy obdrželi Nobelovu cenu (1986). Od tohoto přístroje byla odvozena celá řada příbuzných technik, využívajích různých interakcí s povrchem. Souhrně se označují jako rastrovací sondové mikroskopie. Zde zejména vyniká mikroskopie atomových sil, která umožnila měření téměř všech, i nevodivých materiálů. Úspěch těchto technik spočívá v jejich široké použitelnosti. Umožňují nejen zobrazovat povrch materiálu, ale i měřit jeho vlastnosti na atomární úrovni a manipulovat s jednotlivými atomy. To vše navíc v různých prostředích - na vzduchu, ve speciální atmosféře, v kapalinách, ve vakuu a za nízkých i vysokých teplot (stovky stupňů Celsia chladu i tepla). Staly se tak nepostradatelné v mnoha vědních oborech, od studia pevných
látek po chemii a biologii. Jsou také inspirací pro umění, neboť odhalují
krásy přírody a bohatost tvarů v mikroskopickém měřítku (obr.1 a 2).
|
|
![]() Obr.1: stojatá elektronová vlna v kruhu atomů železa na povrchu mědi (STM) |
![]() Obr.2: lidské chromozomy (AFM) |
Rastrovací sondová mikroskopie | |
Jedná se o skupinu metod založených na pohybu sondy v těsné blízkosti povrchu, obvykle několik málo nanometrů (Pozn.: 1 nanometr = 1 nm = 1 miliontina milimetru). Sondou může být téměř cokoliv, podle typu sondy rozlišujeme různé metody. Velmi jemný pohyb sondy je prováděn pomocí piezokrystalu, který se prodlužuje a smršťuje podle přiloženého napětí. Pro dosažení vysokého rozlišení je nutné zabezpečení proti vibracím. To je obvykle realizováno zavěšením na pružinách. Téměř anharmonického tlumení je možné dosáhnout indukcí vířivých proudů: pohybuje-li se plošný vodič (např. plátek mědi) v magnetickém poli, dojde k indukci proudu, který působí proti této změně. Pojem zvětšení nemá v sondové mikroskopii smysl. Obraz je totiž
vytvářen na základě elektromechanické interakce sondy se vzorkem. Skutečné
rozměry je třeba kalibrovat. Měření probíhá tak, že sonda sleduje profil
konstantní interakce pomocí zpětné vazby. Lze měřit na vzduchu, ve vakuu
i v kapalinách. Předměty zkoumání jsou velmi různorodé. Sahají od kovů
a polovodičů přes molekuly a polymery až po živé buňky.
|
|
Rastrovací tunelová mikroskopie - STM | |
Tunelová mikroskopie pracuje na principu tunelového jevu: jsou-li dva vodivé materiály v dostatečné blízkosti (ale ne v kontaktu), existuje nenulová pravděpodobnost, že elektrony projdou z jednoho materiálu do druhého, protéká tzv. tunelový proud. Velikost tunelového proudu silně (exponenciálně) závisí na vzdálenosti a také na přiloženém napětí. Sondou je ostrý kovový hrot, na jeho konci se nachází jen několik atomů (obr. 3). Tento hrot sleduje změny tunelového proudu a sestavuje tak obraz lokální hustoty elektronů na povrchu vzorku. Z těchto map elektronové hustoty je potom na základě teoretických modelů vyhodnocována skutečná struktura povrchu. Základní předností je vysoké sub-atomární rozlišení, které dovoluje podrobně zobrazit jednotlivé atomy. V okolí hrotu lze přiložením napětím vytvořit silné elektrické pole, které je schopné vytrhnout atom z povrchu. To umožňuje cílenou manipulaci s jednotlivými atomy. |
|
![]() |
![]() Obr.3: špička hrotu STM |
Mikroskopie atomových sil - AFM | |
Sondou je tzv. cantilever - to je pružné raménko na jehož konci je ostrý hrot (obr.4). Hrot může být z různých materiálů, typickým je křemík, nebo na něm může být připevněna magnetická částice či molekula. Působením přitažlivých a odpudivých sil (Van der Waalsovské, elektrostatické,
magnetické) dochází k ohýbání raménka. Ohyby jsou detekovány laserovým
paprskem a slouží pro sestavení obrazu povrchu, např. sledováním profilu
konstatní síly. Tato metoda má širší použití než STM, protože vzorky nemusí
mít vodivý povrch a ani hrot nemusí být vodivý.
|
|
![]() |
![]() Obr.4: hrot a část raménka AFM |
|
|
Jste 10784 . návštěvníkem od 22.6.2000. |
B. Rezek (
24.07.2009) |