Výzkumní pracovníci z Fyzikálního ústavu AV ČR a Univerzity v Řezně v Německu představili novou metodu mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy = AFM), která umožňuje zobrazit polaritu jednotlivých chemických vazeb v molekule. Možnost detailního zobrazení rozložení náboje v chemických vazbách v rámci jedné molekuly výrazně posouvá současné možnosti studia přenosu náboje na atomární a molekulární úrovni. Právě detailní znalost rozložení náboje na molekulární úrovni by mohla pomoci např. při konstrukci solárních článků.
