Analytická metoda Rutherford Backscattering Spectrometry – channeling (RBS-channeling) je založena na kanálování nabité částice v potenciálu krystalické mřížky, kdy částice prochází mnoha rozptyly pod malými rozptylovými úhly a pohybuje se v řetězovém potenciálu monokrystalu tak, že výtěžek ve spektru zpětně odražených iontů prudce klesne. Pokud skenujeme výtěžek v axiálních kanálech monokrystalů tj. okolo axiální osy kanálovacího směru, získáme informace o polohách atomů v intersticiálních polohách a hustotě defektů v krystalu popř. typu defektů z tvaru spektra.

Pro přesnou interpretaci tvaru axiálního skenu výtěžku zpětně odražených iontů je nezbytné použít simulaci tohoto výtěžku s využitím simulací metodou MC (Monte Carlo) založené na aproximaci binárními kolizemi a se započítáním pravděpodobnosti nejbližšího přiblížení projektilu k rozptylovému centru. Úkolem disertační práce bude provést simulace průchodu energetických iontů různými typy monokrystalických materiálů a vygenerovat výtěžek ve spektru zpětně odražených iontů, které dopadají pod kritickým úhlem pro kanálovací efekt. Výsledkem těchto simulací bude také tvar axiálních skenů pro krystal LiNbO₃, pro nějž jsou shromážděna data měřená metodou RBS-channeling v několika kanálovacích směrech, které umožní verifikaci simulace. Současně bude úkolem simulovat polohu Er atomu v dopovaných strukturách Er: LiNbO₃, kde jsou k dispozici opět soubory dat měřené metodou RBS-channeling ve stejných krystalografických řezech jako pro nedopovaný materiál.

Literatura:

1. Sohler W, Suche H. Integrated Optical Circuits and Components., Marcel Dekker : New York, 1999; 127.
2. Lorenzo A et al. Optical Materials. 1997; vol . 8:55-63
3. Lorenzo A, Jaffrezic H, Roux B, Boulon G, Garc�a Sol� J, Appl. Phys. Lett. 1995; 67 (25) :3735-3737.
4. Rebouta L, et al. Soares JC, Phys. Rev. B.1993; vol. 48 (6): 3600-3610
5. Feldman LC, Mayer JW, Picraux ST. Materials Anal. by Ion Channeling. Academic Press: London, 1982.