Zabývá se charakterizací materiálů pomocí transmisní elektronové mikroskopie (TEM). Specializuje se na in-situ TEM (zahřívání, deformace) a na analytické techniky TEM, jako jsou spektroskopie ztrát energie elektronů (EELS), energeticky disperzní rentgenová spektroskopie (EDS) a energiově filtrovaný TEM (EFTEM). Co se týká materiálů, specializuje se zejména na kovové materiály a tenké vrstvy.
V minulosti jsem se podílel i na tak specifivkém poli jako TEM analýza radiačního poškození materiálů z jaderných elektráren.
ORCID 0000-0002-3251-1062
ResearcherID G-6247-2014
Scopus Author ID 57199500578
ResearchGate Jan_Duchon
