Popis transportních vlastností Schottkyho diod připravených depozicí grafitu na polovodičové materiály

Rok: 2013

Mgr. Roman Yatskiv, Ph.D.

Spolupráce: Chernivtsi National University


Depozicí koloidního grafitu jsme na různých polovodičových materiálech připravili Schottkyho kontakty s vynikajicími usměrňovacími parametry a teplotní stabilitou. Ve spolupráci s Chernivtsi National University jsme ukázali, že charakteristiky proud-napětí Schotkyho diod na bázi grafitu a jejich teplotní závislosti mohou být popsány generačně rekombinační teorií v oblasti prostorového náboje. Tato teorie je plně v souladu s experimentem.

Teplotní závislost I-V charakteristik diody grafit/CdMnTe

(a) Srovnání výsledků výpočtu (plné čáry) s I–V charakteristikami diod grafit/CdMnTe měřenými při různých teplotách (kroužky), (b) energetický pásový diagram diody grafit/CdMnTe.

Publikace:

  1. Yatskiv, Roman ; Grym, Jan. Thermal stability study of semimetal graphite n-InP and n-GaN Schottky diodes. .i.Semiconductor Science and Technology./i., 2013, Roč. 28, č. 5. ISSN 0268-1242.
  2. Grym, Jan ; Yatskiv, Roman. Schottky barriers based on metal nanoparticles deposited on InP epitaxial layers. .i.Semiconductor Science and Technology./i., 2013, Roč. 28, č. 4. ISSN 0268-1242.
  3. Kosyachenko, L.A. ; Yatskiv, Roman ; Yurtsenyuk, N.S. ; Maslyanchuk, O.L. ; Grym, Jan. Graphite/CdMnTe Schottky diodes and their electrical characteristics. .i.Semiconductor Science and Technology./i., 2014, Roč. 29, č. 1. ISSN 0268-1242.

 

 

ÚFE provádí základní a aplikovaný výzkum v oblasti fotoniky, optoelektroniky a elektroniky. ÚFE příspívá k rozvoji poznání v těchto oblastech a vytváří širokou bázi znalostí, jako základ pro vývoj nových špičkových technologií.

Kontakt

+420 266 773 400
ufe@ufe.cz
Datová schránka: m54nucy
IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882