| Číslo projektu | Název projektu | Agentura | Reg. č. | Trvání |
| UPT- 5415 | Nové prvky pro separaci a detekci elektronů v rastrovacím mikroskopu s velmi nízkou energií elektronů | GA AV ČR | IAA1065804 | 01:01:1998 - 31:12:2000 |
| UPT- 5451 | Program. vybaveni pro EO | 01:01:2001 - 31:12:2001 | ||
| UPT- 5411 | Vady seřízení elektronově optických systémů | GA AV ČR | IAA100650805 | 01:01:2008 - 31:12:2010 |
| UPT- 5132 | Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu | GA ČR | GA102/05/0886 | 01:01:2005 - 31:12:2007 |
| Číslo projektu | Název projektu | Agentura | Reg. č. | Trvání |
| UPT- 5432 | Holografie s pomalými elektrony | GA ČR | GA202/94/1100 | 01:01:1994 - 31:12:1996 |
| UPT- 5433 | Depozice tenkých vrstev fokusovaným iontovým svazkem o nízké energii; studium depozičních procesů (růstu vrstev) in situ | GA ČR | GA202/94/0565 | 01:01:1994 - 31:12:1996 |
| UPT- 5422 | Vytváření nanostruktur fokusovanými iontovými svazky | EC | G5RD-CT-2000-00344 | 01:05:2002 - 31:12:2003 |
| UPT- 5401 | Kombinované SIMS-SFM zařízení pro 3D chemickou analýzu nanostruktur | EC | NMP4-SE-2008-200613 | 15:09:2008 - 15:09:2012 |
