Po vstupu České republiky do Evropské unie je na české výrobce kladen požadavek trvalého zvyšování kvality jejich produkce a tím i konkurenceschopnosti na vyspělých světových trzích. Jde-li o unikátní výrobky pro jemnou mechaniku a přesné strojírenství, jedním z měřítek kvality je vysoká geometrická přesnost výroby. Ta je obvykle výrobci zajištěna pravidelným ověřováním jejich referenčních měřidel v návaznosti na národní metrologickou soustavu. U špičkové výroby, jako jsou např. indukčnostní snímače vzdáleností, však výrobci začínají vyžadovat referenční kalibrační systémy s udanou nejistotou již v řádu nanometrů. Cílem projektu je proto vytvoření soustavy testovacích interferometrů pro nanometrologii, které budou umožňovat měření vzdáleností a kalibrace snímačů a akčních členů s uvedenou nejistotou. Tyto systémy budou začleněny do národní metrologické soustavy ČR a na akreditovaných pracovištích budou k dispozici českým výrobcům i uživatelům špičkové měřicí techniky.
|
