|
|
Close Help | ||||||||||||||
Spektroskopie ztrát energie elektronů v reflexní geometrii (REELS) je pro nízké energie elektronů extrémně povrchově citlivá a může být použita k charakterizaci elektronových vlastností ultratenkých vrstev a povrchů nanostruktur. Pro získání spolehlivé kvantitativní informace z REELS spekter potřebujeme přesný teoretický algoritmus. V této práci...
Vzhledem ke své jednoduchosti je hliník stále velice důležitým materiálem v teorii fyziky pevných látek. Z toho důvodu je tedy i častým objektem pro měření a pro výpočty vycházející z prvních principů. Elektronová struktura jednoduchých povrchů hliníku byla již mnohokrát vypočtena jak v rámci polo-nekonečného krystalu, tak i pomocí přiblížení „...
Výzkumný program laboratoře je zaměřen na studium: Vlastních,příměsových, radiačních světlem indukovaných paramagneticky aktivních defektů v pevných látkách; Fyzikálních vlastností tenkých vrstev a nanomateriálů; Lokální struktury a dynamiky relaxorů a neuspořádaných feroelektrik; Fyzikálních vlastností nových magnetoelektrických materiálů,...
Řešitelský tým: Karel Nitsch, Miroslava Rodová, Antonín Cihlář, Robert Král Zaměření Vyhledávání a příprava vhodných materiálů - krystalů, epitaxních vrstev, nanostruktur a skel - vysoké kvality a čistoty se zajímavými optickými vlastnostmi, s perspektivou jejich použití jako lasery v blízké IČ oblasti a jako detektory neutronů, gama a rtg...
V laboratoři elektronové spektroskopie se využívají metody elektronových spektroskopií ke studování povrchových vlastností pevných látek. Laboratoř je vybavena fotoelektronových spektrometrem ADES 400 (Angular Distribution Electron Spectrometer), Obr.1, od firmy VG Scientific. Obr. 1. Komora fotoelektronového spektrometru ADES 400
V laboratoři Diamantových vrstev a uhlíkových nano-struktur disponujeme dvěma unikátními depozičními systémy: Aixtron P6 a nový Roth & Rau AK 400 – určenými pro technologii „mikrovlnnou plazmou podpořená chemická depozice z par“ (microwave plasma assisted chemical vapor deposition). V současnosti se systém Aixtron P6 používá na růst...
Experimentální vybavení: Aparatura CPM (constant photocurrent method) Měření spekter optické absorpce v amorfních, nanokrystalických a mikrokrystalických tenkých vrstvách polovodičů (a-Si, μc-Si pro sluneční články, ...) Dvě aparatury FTPS (Fourier transform photocurrent spectroscopy) Měření spekter fotoproudu a optické absorpce na tenkých...
Experimentální vybavení: Absorpční a transmisní spektrofotometer Shimadzu 3101 PC. Dvoupaprskový přístroj, 190-2500 nm. Možnost měření i reflexních spekter, integrační koule. UV-VIS luminiscenční spektrofluorometer 199S, Edinburgh Instrument. Excitační a emisní spektra 200-800 nm. Měření kinetik dosvitu luminiscence v oblasti časů 100 ps – 1...
Copyright © 2008, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
