Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Languages

Research at Department 26

30/12/09 New Insight on Atomic-Resolution Frequency Modulation Kelvin Porbe Force Microscopy Imaging of SemiconductorsSelected results

We provide new insight into atomic contrast obtained using Kelvin Probe Force Microscopy based on both experimental and theoretical analysis. We approved, that the atomic contrast is not an artefact, but it has a physical background. In particular, we peform a set of complex computer simulations of tip-sample interaction between a scanning probe and surface. The simulations showed a change of the charge density redistribution and consequently the surface dipole due to the formation of the chemical bond between a probe and surface atoms.  Celý text >>

Nanokrystalizace křemíku pomocí AFMSelected results

Hledáme alternativní cestu přípravy Si nanokrystalů, a to krystalizací amorfního křemíku pomocí ostrého hrotu v mikroskopu atomárních sil (AFM). Na předem daných místech v tenké vrstvě amorfního křemíku vytvoří procházející elektrický proud mikroskopické prohlubně s vysokou elektrickou vodivostí. Tato vysoká vodivost je připisována vzniku křemíkových krystalů.  Celý text >>

Copyright © 2008, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.