Apr
MAY
Jun
1
2009
2010
2011
1 capture
1 May 10 - 1 May 10
Close
Help
Čeština
English
Hledat na tomto webu:
Mapa stránek
Pracovníci
Přihlásit
Odkazy
Úvodní stránka
Oblasti zájmu
Tenké vrstvy
Reference
Publikace
Odborné články
Naše publikace
Školní práce
Doktorské práce
Diplomové práce
Katalog publikací
Popularizace
Popularizační články
Akce
Napsali o nás
Často kladené otázky
Kontakty
Kontaktní formulář
Pracovníci
Navigace
Ankety
Biblio
My publications
Authors
Klíčová slova
Blogy
Galerie
Hledat
Kontakt
Mapa stránek
Obrázky
FAQ
Poslední příspěvky
Nejnovější příspěvky
Inovační vouchery
Průchodka D-SUB 9 pinů na přírubě ISO-KF 25
Koaxiální průchodka na přírubě ISO-KF 16
Napsali o nás - Hospodářské noviny
Napsali o nás - Brněnský denník
další
Domů
»
Obrázková galerie
»
Naprašování
Typical normal incidence x-ray refraction dependence of the Mo/Si mirror deposited in our laboratory
Vložil(a) iv, 7. Únor 2010 - 0:02
Naprašování
Článek:
Multivrstvy pro rentgenovou optiku
Přidat komentář
Thumbnail
Teaser