Práce se zabývá návrhem, analýzou a testováním zařízení, které využívající nedestruktivní metody pro měření mechanických vlastností mikro/nano materiálů a tenkých vrstev (elastický modul a modul ve smyku). Cílem práce je navrhnout a analyzovat zařízení pro měření materiálových vlastností makroskopických struktur a na základě získaných znalostí navrhnout a zkonstruovat prototyp zařízení pro měření materiálových vlastností mikro/nano materiálu a tloušťek tenkých vrstev.

Obr. 1. Reflexe světla procházejícího tenkým filmem

Obr. 2. (a) Zvrásněný povrch obdržený pomoci AFM, (b) Schematický diagram zvrásněného povrchu
 

Reference:

1. A. I. Fedorchenko, I. Stachiv, A.-B. Wang and W.-C. Wang, “Fundamental frequencies of mechanical systems with piecewise constant properties,” Journal of sound and vibration, 317, 490-495, 2008.
2. A. I. Fedorchenko, A.-B. Wang, V. I. Marshanov, W.-P. Huang and H.-H. Cheng, Strain induced wrinkling on SiGe free standing films, Applied Physics Letters 89, 043119-1 - 043119-3, 2006.
3. W.-P. Huang, H.-H. Cheng, A. I. Fedorchenko and A.-B. Wang, “Strain on wrinkled bilayer thin film,” Applied Physics Letters 91, 053103-1 - 053103-3, 2007.
4. A. I. Fedorchenko, A.-B. Wang and H.-H. Cheng, “Thickness dependence of nanofilm elastic modulus,” Applied Physics Letters 94, 152111-1 - 152111-3, 2009.