Budou studovány vady seřízení elektronově optických systémů, které vznikají v důsledku nepřesností výroby a sestavení elektronově optických prvků a jejich soustav. Tyto nepřesnosti se projevují vznikem dodatečných malých polí a vznikem vad zobrazení, nazývanách vady seřízení nebo poruchové vady, které omezují správné chování systémů. Struktura těchto vad bude analyzována a jednotlivé vady budou popsány pomocí vhodně vyjádřených koeficientů. Alternativně bude vliv vad seřízení určen z přesného trasování nabitých částic neporušeným a porušeným systémem, koeficienty vad obdržíme fitováním a vliv vad bude zobrazen graficky. Určení vlivu vad seřízení bude implementován jako rozšíření programu EOD, používanému pro návrh v elektronové optice.
|
