Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

Český rozhlas, Mozaika, 6.10.2010.

Oba nově ocenění vědci...

Česká televize, pořad "O vědě a vědcích (4/13)", 22.9.2010.

...

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminář Úterý, 21. září 2010 - 14:00 - 15:00

Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Jazyk přednášky: angličtina

Přílohy

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.