Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

Pandatron.cz, 21.10.2010.

Skupina S. Kamby z Fyzikálního ústavu...

Český rozhlas, Mozaika, 6.10.2010.

Oba nově ocenění vědci...

Český rozhlas Radiožurnál, pořad Stalo se dnes, 5.10.2010.

...

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminář Úterý, 21. září 2010 - 14:00 - 15:00

Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Jazyk přednášky: anglicky

Přílohy

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.