Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Technology World, 5.12.2010.

7. a 8. prosince 2010 se představí...

Celý text >>

Český rozhlas, pořad Rentgen, 2.12.2010.

Evropská organizace...

Celý text >>

Lidové noviny, 30.11.2010.

Rozhovor s Martinem Schnablem z...

Celý text >>

Měření jednotlivých zrn v mikrokrystalickém křemíku

topografie zrn měřená pomocí AFM
současně měřená mapa lokální vodivosti. Přitom měříme proud tekoucího z hrotu AFM přes vzorek do spodní elektrody

T. Mates et al., J. No n-Crystalline Solids, 352 (2006) 1011