Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

ELI Beamlines na technologickém veletrhu v Londýně

Technology World, 5.12.2010.

7. a 8. prosince 2010 se představí...

Celý text >>
O posledních objevech CERNu

Český rozhlas, pořad Rentgen, 2.12.2010.

Evropská organizace...

Celý text >>
Nejde o moc, ale o dobrou vědu

Lidové noviny, 30.11.2010.

Rozhovor s Martinem Schnablem z...

Celý text >>
Více ...

Laboratoře oddělení 19

Laboratoř rentgenové difrakce na monokrystalech

Vedoucí laboratoře: Michal Dušek

Hlavním experimentálním nástrojem je čtyřkruhový difraktometr Gemini s plošným detektorem Atlas, který slouží k zjišťování struktur monokrystalických látek metodou rentgenové difrakce. Tento moderní přístroj instalovaný na počátku roku 2008 se svojí senzitivitou a rychlostí sběru dat řadí k nejlepším přístrojům dané kategorie a umožňuje vyjímečně přesné měření satelitních reflexí aperiodických látek.

  Celý text >>

Laboratoř precesní elektronové difrakce

Vedoucí laboratoře: Lukáš Palatinus

Precesní elektronová difrakce je nová metoda, která umožňuje stanovení atomární struktury krystalických mikrovzorků z elektronových difrakčních dat. Od klasické elektronové difrakce se liší tím, že elektronový svazek provádí precesní pohyb, který častečně ruší dynamické efekty difraktovaných intenzit.

  Celý text >>

Laboratoř rentgenové difrakce na práškových vzorcích

Plánovaná laboratoř. Za přípravu odpovídá: Michal Dušek

Prášková rentgenová difrakce je strukturně-analytická metoda, která se v Oddělení strukturní analýzy dosud neprovozovala. Její plánované zavedení v roce 2010 souvisí s naším cílem provádět komplexní analýzu krystalických materiálů pomocí komplementárních difrakčních metod.

  Celý text >>

Laboratoř elektronové mikroskopie

Vedoucí laboratoře: Karel Jurek

Laboratoř rastrovací elektronové mikroskopie a rentgenové mikroanalýzy je celoústavním servisním pracovištěm. Je vybavena elektronovým mikroanalyzátorem JXA-733 japonské firmy JEOL. Přístroj, jehož základem je rastrovací elektronový mikroskop (SEM-Scanning Electron Microscope), je vybaven třemi krystalovými "wavelength dispersive" rentgenovými spektrometry a jedním energeticky disperzním "energy dispersive" Si(Li) spektrometrem fy KEVEX (USA).

  Celý text >>

Laboratoř AFM

Vedoucí laboratoře: Ivo Drbohlav

Servisní laboratoř mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy) využívá mikroskop Explorer, Thermomicroscopes, USA. Pomocí tohoto přístroje se dají získat trojrozměrné informace o površích studovaných látek. Obraz se sestavuje bod po bodu pomocí detekce pohybu zkoumacího hrotu. Metoda je bezkontaktní, hrot a vzorek na sebe působí meziatomovou přitažlivostí (van der Waalsovými silami).

  Celý text >>

Laboratoř pro orientaci krystalů

Vedoucí laboratoře: Jiří Hybler

Některá fyzikální měření, zejména optická nebo magnetická, musí být prováděna na vzorcích zaujímající přesně danou krystalografickou orientaci, protože měřené vlastnosti jsou anisotropní (závislé na směru). Orientace takových vzorků se provádí v Laboratoři pro orientaci monokrystalů.

  Celý text >>

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.