Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

ELI Beamlines na technologickém veletrhu v Londýně

Technology World, 5.12.2010.

7. a 8. prosince 2010 se představí...

Celý text >>
O posledních objevech CERNu

Český rozhlas, pořad Rentgen, 2.12.2010.

Evropská organizace...

Celý text >>
Nejde o moc, ale o dobrou vědu

Lidové noviny, 30.11.2010.

Rozhovor s Martinem Schnablem z...

Celý text >>
Více ...

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminář Úterý, 21. září 2010 - 14:00 - 15:00

Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Jazyk přednášky: anglicky

Přílohy

application/pdf iconseminar_-_Beinik.pdf

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.