České noviny, 4.1.2010.
Praha - Mezinárodní tým vědců z České republiky, Německa a Japonska objevil nové možnosti zobrazování jednotlivých atomů pomocí rastrovacích mikroskopů. Rastrovací mikroskopy umožňují nejen zobrazovat a charakterizovat jednotlivé atomy na povrchu pevných látek, ale také s nimi manipulovat.
Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
