Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

Granty ERC pro zkušené výzkumníky uděleny

CZELO.CZ, 20.1.2011.

Evropská výzkumná rada (ERC) zveřejnila...

Celý text >>
Objev ve výzkumu spinových tranzistorů

Czech Business Media, 17.1.2011.

Mezinárodní tým vědců, který...

Celý text >>
Pokus, který zavedl vědce těsně k počátkům vesmíru

LIDOVKY.CZ, 24.12.2010.

Poprvé v historii napodobili vědci...

Celý text >>
Více ...

Laboratoře oddělení 19

Laboratoř rentgenové difrakce na monokrystalech

Vedoucí laboratoře: Michal Dušek

Hlavním experimentálním nástrojem je čtyřkruhový difraktometr Gemini s plošným detektorem Atlas, který slouží k zjišťování struktur monokrystalických látek metodou rentgenové difrakce. Tento moderní přístroj instalovaný na počátku roku 2008 se svojí senzitivitou a rychlostí sběru dat řadí k nejlepším přístrojům dané kategorie a umožňuje vyjímečně přesné měření satelitních reflexí aperiodických látek.

  Celý text >>

Laboratoř precesní elektronové difrakce

Vedoucí laboratoře: Lukáš Palatinus

Precesní elektronová difrakce je nová metoda, která umožňuje stanovení atomární struktury krystalických mikrovzorků z elektronových difrakčních dat. Od klasické elektronové difrakce se liší tím, že elektronový svazek provádí precesní pohyb, který častečně ruší dynamické efekty difraktovaných intenzit.

  Celý text >>

Laboratoř rentgenové difrakce na práškových vzorcích

Vedoucí laboratoře: Jan Rohlíček

Rentgenová difrakce na práškových vzorcích se používá v celé řadě analytických metod, například pro fázovou analýzu, strukturní analýzu, studium tenkých vrstev, analýzu textur a výzkum nanomateriálů. Difrakční záznam vzniká jako superpozice nezávislých difrakcí na jednotlivých mikrokrystalech prášku.

  Celý text >>

Laboratoř elektronové mikroskopie

Vedoucí laboratoře: Karel Jurek

Laboratoř rastrovací elektronové mikroskopie a rentgenové mikroanalýzy je celoústavním servisním pracovištěm. Je vybavena elektronovým mikroanalyzátorem JXA-733 japonské firmy JEOL. Přístroj, jehož základem je rastrovací elektronový mikroskop (SEM-Scanning Electron Microscope), je vybaven třemi krystalovými "wavelength dispersive" rentgenovými spektrometry a jedním energeticky disperzním "energy dispersive" Si(Li) spektrometrem fy KEVEX (USA).

  Celý text >>

Laboratoř AFM

Vedoucí laboratoře: Ivo Drbohlav

Servisní laboratoř mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy) využívá mikroskop Explorer, Thermomicroscopes, USA. Pomocí tohoto přístroje se dají získat trojrozměrné informace o površích studovaných látek. Obraz se sestavuje bod po bodu pomocí detekce pohybu zkoumacího hrotu. Metoda je bezkontaktní, hrot a vzorek na sebe působí meziatomovou přitažlivostí (van der Waalsovými silami).

  Celý text >>

Laboratoř pro orientaci krystalů

Vedoucí laboratoře: Jiří Hybler

Některá fyzikální měření, zejména optická nebo magnetická, musí být prováděna na vzorcích zaujímající přesně danou krystalografickou orientaci, protože měřené vlastnosti jsou anisotropní (závislé na směru). Orientace takových vzorků se provádí v Laboratoři pro orientaci monokrystalů.

  Celý text >>

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.