Fyzikální ústav Akademie věd ČR

FZÚ v médiích

Granty ERC pro zkušené výzkumníky uděleny

CZELO.CZ, 20.1.2011.

Evropská výzkumná rada (ERC) zveřejnila...

Celý text >>
Objev ve výzkumu spinových tranzistorů

Czech Business Media, 17.1.2011.

Mezinárodní tým vědců, který...

Celý text >>
Pokus, který zavedl vědce těsně k počátkům vesmíru

LIDOVKY.CZ, 24.12.2010.

Poprvé v historii napodobili vědci...

Celý text >>
Více ...

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminář Úterý, 21.09.2010 14:00 - 15:00

Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Jazyk přednášky: anglicky

Přílohy

application/pdf iconseminar_-_Beinik.pdf

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.