Přednášející: Dr. Petr Klapetek (Czech Metrology Institute, Brno)
Místo: Fyzikální ústav AV ČR, Cukrovarnická 10, malá zasedačka, budova B
Jazyk: česky
Pořadatelé:
Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
V přednášce bude představena problematika metrologického zajištění měření délky a dalších veličin v nanoměřítku. S ohledem na stále se zvyšující nároky na měření pomocí metod rastrovací mikroskopie se i v metrologii stávají nezbytnými numerické simulace. Z pohledu potřeb nanometrologie bude diskutována jak klasická a kvantová molekulární dynamika, využívaná při řešení otázek spojených s konfigurací hrot-povrch tak metoda FDTD (Finite Difference in Time Domain), umožňující simulace šíření elektromagnetického pole v mikro- a nanoměřítku. Pro oba přístupy je využit výpočetní přístup založený na grafických kartách, což umožňuje mnohonásobné zkrácení doby potřebné pro výpočty. Budou proto diskutovány také obecné možnosti grafických karet při numerických výpočtech v oblasti rastrovací mikroskopie a fyziky povrchů.
Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
