DETAILY PROJEKTU
| Název: | Charakterizace supermřížek a ultra-mělkých vrstev v polovodičích pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu a kontaktního profilometru |
| Řešitel: | Ing. Jarmila Walachová, CSc. |
| Člen: | Ing. Jan Vaniš, Ph.D. |
| Od: | 1994-01-01 | |
| Do: | 1996-12-31 | |