Rentgenový práškový difraktometr Bruker D8 (CuKα záření, SOL-X energeticky rozlišující detektor) je používám k určování:
Získané difraktogramy jsou analyzovány Rietveldovou metodou pomocí programů FullProf a JANA. Struktury nalezených fází jsou získány z databáze struktur ICSD.
Thompson-Cox-Hastings pseudo-Voigt profil se používá na rozlišení příspěvků od přístroje, napětí a velikosti zrn k šířce píků. Přístrojové rozšíření je určeno měřením standardu prášku Wolframu s velikostí zrn 9.4 µm.
Difrakční data a krystalové struktury jsou zpracovávány pomocí balíku programů Kalvados.
Teplotně závislá strukturní characterizace v rozsahu teplot 90-1200 K je umožněna teplotní komůrkou MRI TC-wide range. Měření lze provádět v normální atmosféře, ve vakuu či v proudu vybraného plynu.
Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
