Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Vedoucí laboratoře: Ivo Drbohlav

Servisní laboratoř mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy) využívá mikroskop Explorer, Thermomicroscopes, USA. Pomocí tohoto přístroje se dají získat trojrozměrné informace o površích studovaných látek. Obraz se sestavuje bod po bodu pomocí detekce pohybu zkoumacího hrotu. Metoda je bezkontaktní, hrot a vzorek na sebe působí meziatomovou přitažlivostí (van der Waalsovými silami). Detekce pohybu hrotu se provádí laserovým paprskem, jehož poloha je registrována fotodetektorem.

Laboratoř AFM má v Oddělení strukturní analýzy mnohaletou tradici a spolupracuje s řadou zejména technologických skupin v rámci FzÚ i v rámci spolupráce s dalšími vědeckými pracovišti. Mezi studovanými látkami byly kovové slitiny (vliv různých typů deformací na strukturu jejich povrchu), nanodiamantové vrstvy, kvantové tečky, mikrokrystalické vrstvy Si, optoelektrické krystaly a různá skla a vliv jejich interakce se zářením, mezi nepublikovanými výsledky je například spolupráce na studiu rychlosti leptání a vlivu různých masek na výslednou strukturu leptaných polovodičových prvků.

Mikroskop atomárních sil Explorer. AFM Explorer je vybaven dvěma výměnnými suchými scannery pro různé velikosti studovaných ploch – max. 100 x 100 μ m XY, 10 μ Z a max. 2.5 x 2.5 μ XY, 0.8 μ Z; nezávisle na velikosti plochy je typické rozlišení 200 x 200 bodů.

Topografie vzorků (μc-Si:H) s uvedenými koncentracemi silanu (ředící série), kdy k přechodu od amorfních ke krystalickým vzorkům dochází se snižující se koncentrací silanu ve vodíku.