Přednášející: J. Řídký, J. Lančok, J. Rosa, V. Cháb, K. Winkler, P. Hoefer
Místo: Přednáškový sál FZÚ Na Slovance
Pořadatelé:
FZÚ AV ČR
Seminář bude věnován představení projektu SAFMAT, který byl získán Fyzikálním ústavem v rámci programu Operační program Praha – Konkurenceschopnost (OPPK ) v oblasti podpory 3.1 Rozvoj inovačního prostředí a partnerství mezi základnou výzkumu a vývoje a praxí. V rámci semináře budou představeny podrobnosti projektu etapizace, finanční a odborní partneři, financování atd. Nedílnou součástí SAFMAT-u je také výstavba nového objektu v areálu FZÚ nazvaného „Dostavba Sekce Optiky“.
Cílem projektu SAFMAT je především rozvoj kapacit přístrojového vybavení ve FZÚ pro výzkum materiálů v oblastech nanotechnologií. V rámci projektu budou pořízeny dva moderní a nákladné přístroje pro charakterizaci nanostrukturních funkčních materiálů.
Přístroj typu NanoESCA - jedná se o konstrukčně a ideově zcela nový přístroj spojující unikátním způsobem elektronovou mikroskopii fotoelektronů (PEEM-Photoemission Electron Microscope) a fotoelektronovou spektroskopii (ESCA) pro studium chemického složení a strukturálních vlastností materiálů v nanometrickém prostorovém rozlišení. V současné době přístroj podobného typu vyvíjí firma Omicron. V rámci semináře bude přístroj typu NanoESCA a jeho možnosti pro výzkum vlastností materiálů představen panem Konrádem Winklerem ze společnosti Omicron.
FT - EPR spektrometr pracující v režimu – klasickém (CW) i pulzním (FT), v X-pásu (9,4-9,8 GHz) a Q-pásu (34 GHz). Spektrometr obsahuje systém pro měření ENDOR (elektron-jaderné dvojné rezonance) a ELDOR (elektron-elektronové dvojné rezonance). Metodou EPR (Elektronová paramagnetická rezonance) spektroskopie je možno určit strukturu, dynamiku a prostorovou distribuci paramagnetických částic na atomové úrovni. Metoda je vhodná pro výzkum vlivu struktury na funkční vlastnosti materiálů. Typickým příkladem je výzkum struktury defektů v polovodičích a multifunkčních materiálech, identifikace různých gelů adsorbovaných molekul na površích apod. V rámci semináře bude CW/FT EPR spektrometr a jeho možnosti pro výzkum vlastností materiálů představen panem Peterem Hoeferem ze společnosti Bruker, která je jedním z předních výrobců EPR spektrometrů.
Program:
13:00 - 13:10 Úvod J. Řídký, vedoucí projektu
13:10 - 13:30 Projekt SAFMAT, J. Lančok, manažer projektu
13:30 - 14:20 prezentace technologie EPR J. Rosa - odborný garant, Dr. Peter Hoefer
– prezentace přístroje FT-EPR ze společnosti Bruker BioSpin GmbH
14:20 - 15:10 prezentace přístroje NanoESCA, V. Cháb - odborný garant, Konrad Winkler
– prezentace přístroje NanoESCA ze společnosti Omicron
15:10 – Diskuse
Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
