«DEC
JAN
MAR »
7
2011
2012
2013 »
22 captures
5 Nov 11 - 1 Mar 14
Close
Help
ústav
události
výzkum
aktivity
hledání
intranet
PROJEKTY
ÚSPĚCHY
LABORATOŘE
DETAILY LABORATOŘE
Laboratoř charakterizace nanostruktur
mikroskop atomárních sil - AFM (MultimodeTM, Veeco, USA)
elipsometr (SE 850, Sentech, Německo)
optický profilometr (NewView7300, ZYGO, USA)