Fyzikální ústav AV ČR zve na ústavní seminář Pokročilá charakterizace povrchů a nanostruktur s atomárním rozlišením pomocí rastrovacích mikroskopů dne 7. března 2012 v 15:00 hod. v přednáškovém sále Fyzikálního ústavu Akademie věd na Slovance.
Program:
Pavel Jelínek
Významnou roli při charakterizaci a modifikaci povrchů pevných látek hrají rastrovací
mikroskopy. Poslední vývoj v této oblasti umožňuje kombinaci rastrovacího tunelovacího mikroskopu
(STM) s mikroskopem atomárních sil (AFM). Možnost souběžné detekce atomárních sil a
tunelovacího proudu umožňuje zcela nové možnosti charakterizovat s atomárních rozlišením povrchy a
nanostruktury. Správná interpretace dat získaných tímto komplexním měřením vyžaduje pokročilou
teoretickou analýzu.
V rámci přednášky představíme základní principy a problémy souběžné detekce atomárních
sil a tunelovacího proudu. Následně budeme diskutovat na základě kombinace AFM/STM měření
a teoretické analýzy (i) chemické složení komplexních 1D nanostruktur, (ii) diskriminaci
jednoduchých molekul na površích polovodičů a (iii) vztah mezi tunelovacím proudem a chemickou
vazebnou silou. Na závěr představíme další možnosti využití rastrovacích mikroskopů pro pokročilé
studium fyzikálních a chemických procesů na atomární úrovni.
Jan Řídký, ředitel Fyzikálního ústavu
17 Feb 2012
Česky
