Mikroskopie atomárních sil Veeco Dimension 3100

Mikroskop dosahuje nanometrového rozlišení, ale přitom dovoluje i měření velkých vzorků (i větších než čtvereční decimetr). Kromě toho ale dovoluje také měřit lokální elektronické vlastnosti vzorků, především jejich vodivost s velkou citlivostí (až na úroveň desítek femtoAmpér). Mikroskop používáme pro mapování elektronických vlastností nanostrukturovaných vrstev křemíku pro sluneční články, organických polovodičů, uhlíkových nanostěn, křemíkových nanodrátů, a dalších nanostruktur.