Pro odborníky

 
 

Přístrojové vybavení

Náš ústav disponuje širokým spektrem analytických technik nezbytných pro charakterizaci pevných látek.
Elektronová mikroskopie
  • SEM (JEOL JSM -6510lv, Philips XLCP40) – zobrazení SE, BSE, detekce EDS, WDS, měření tloušťky vrstev
  • TEM (Philips EM201) – zobrazení, elektronová difrakce
  • HRTEM (Jeol JEM-3010) – zobrazení, elektronová difrakce, detekce EDS, mapování orientace krystalů
  • příprava vzorků

Rtg difrakce (Expert PANAnalytical)

  • reflexní a transmisní geometrie
  • mikrodifrakce
  • vysokoteplotní měření
Termální analýza s hmotnostní spektrometrií
  • Setaram, Netzsch
Infračervená spektroskopie
  • Nicolet Avatar
Analýza povrchů

Více informací najdete na webu oddělení Centrum instrumentálních technik http://cit.iic.cas.cz

 
 
 
 
 
 
 
Ústav
anorganické
chemie AV ČR
Výzkum
Pro odborníky Pro veřejnost Pro studenty Pro zaměstnance