Pro odborníky
Přístrojové vybavení
Náš ústav disponuje širokým spektrem analytických technik nezbytných pro charakterizaci pevných látek.
Elektronová mikroskopie
- SEM (JEOL JSM -6510lv, Philips XLCP40) – zobrazení SE, BSE, detekce EDS, WDS, měření tloušťky vrstev
- TEM (Philips EM201) – zobrazení, elektronová difrakce
- HRTEM (Jeol JEM-3010) – zobrazení, elektronová difrakce, detekce EDS, mapování orientace krystalů
- příprava vzorků
Rtg difrakce (Expert PANAnalytical)
- reflexní a transmisní geometrie
- mikrodifrakce
- vysokoteplotní měření
Termická analýza s hmotnostní spektrometrií
- Setaram, Netzsch
Infračervená spektroskopie
- Nicolet Avatar
Analýza povrchů
Více informací najdete na webu oddělení Centrum instrumentálních technik http://cit.iic.cas.cz