Přístrojové vybavení

Náš ústav disponuje širokým spektrem analytických technik nezbytných pro charakterizaci pevných látek. Přístroje slouží převážně pro výzkum prováděný na ÚACH (link na stránku výzkum) a vědecké spolupráce s partnery z výzkumných institucí a vysokých škol. Volná kapacita přístrojů je využita pro průmyslové partnery a zájemce z odborné veřejnosti. Většina přístrojů je soustředěna v oddělení Centrum instrumentálních technik. Více informací najdete na webu oddělení Centrum instrumentálních technik (http://cit.iic.cas.cz v češtině).

Elektronová mikroskopie

Kontakt: Jan Šubrt

• SEM (Jeol  JSM -6510lv, Philips XLCP40)
  • zobrazení SE, BSE, EDS, WDS, měření tloušťky vrstev
• TEM (Philips EM201)
  • zobrazení, elektronová difrakce
• HRTEM (Jeol JEM-3010)
  • zobrazení (BF, DF, HRTEM), elektronová difrakce, EDS, mapování orientace krystalů a fázového složení vzorků, vysokoteplotní a nízkoteplotní meření
• příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii

• mechanické a iontové ztenčování, ultramikrotom

Rtg difrakce

Kontakt: Petr Bezdička

• dva práškové difraktometry (Expert PANAnalytical ....)
  • kvalitativní a kvantitativní RTG difrakce
  • reflexní a transmisní geometrie
  • mikrodifrakce
  • vysokoteplotní měření
  • stanovení amorfního podílu

Termická analýza s hmotnostní spektrometrií

Kontakt: Eva Večerníková

• Setaram, Netzsch (20-1600°C)

Infračervená spektroskopie

Kontakt: Eva Večerníková

• Nicolet Avatar (Mid IR (4000-400cm-1) a Far IR (400-50cm-1))

Analýza povrchů

Kontakt: Jan Šubrt

• Quantachrome Instruments NOVA 4200e, FloVac Degasser

Mössbauerova spektroskopie

Kontakt: Adriana Lančok

• spektrometr WISSEL pro transmisní uspořádání při pokojové teplotě
• kryostat JANIS pro nízkoteplotní měření
• CEMS spektrometr
• pícka WISSEL pro měření v teplotním rozsahu 20 – 900 ^oC