foto

Ing. Hanuš Seiner, Ph.D.

Telefon +420 266 053 712 E-mail hseiner@it.cas.cz Místnost M3101 Oddělení Oddělení D 5 – Ultrazvukové metody Funkce zástupce vedoucího oddělení Odborné zaměření ultrazvukové metody, vnitřní dynamika materiálů
Životopis
Narozen v r. 1981 v Pardubicích.
2004 - titul Ing., Katedra materiálů, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská, ČVUT
2008 - titul Ph.D.., Katedra materiálů, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská, ČVUT
od roku 2003 zaměstnancem Laboratoře ultrazvukových metod ÚT
Vyhledat publikace autora v databázi AVČR (ASEP)
Vybrané publikace
[1] Seiner, H. - Landa, M.: Non-classical austenite-martensite interfaces observed
in single crystals of Cu–Al–Ni. Phase Transitions, Vol. 82 (2009), No.18, pp. 793-807.
[2] Seiner, H. - Bodnárová, L. - Sedlák, P. - Janeček, M. - Srba, O. - Král, R. - Landa. M.: Application of ultrasonic methods to determine elastic anisotropy of polycrystalline copper processed by equal-channel angular pressing. Acta Materialia, Vol. 58 (2010), No.1., pp. 235-247.
[3] Seiner, H. - Glatz, O. - Landa, M.: Interfacial Microstructures in Martensitic Transitions: From Optical Observations to Mathematical Modeling. International Journal for Multiscale Computational Engineering, Vol.7(2009), No.5, pp.445-456
[4] Seiner, H. - Sedlák, P. - Landa, M.: Shape recovery mechanism observed in single crystals of Cu-Al-Ni shape memory alloy. Phase transitions. Vol. 81(2008), No. 6, pp. 537-551.
[5] Seiner, H. - Landa, M.: Sensitivity analysis of an inverse procedure for determination of elastic coefficients for strong anisotropy. Ultrasonics. Vol. 43(2004), pp. 253-263.

Úplný seznam publikací včetně preprintů ke stažení lze nalézt na stránkách Laboratoře ultrazvukových metod.
Projekty
2009-2010 GP202/09/P164Elasticita martenzitických mikrostruktur
Výuka
Vnitřní dynamika materiálů (Katedra materiálů, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT); 2hod/týden, zimní semestr, předmět určen pro studenty 5.ročníku a doktorandy.

Footer menu

© 2008–2012 Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.