Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Institute and media

CERN COURIER, Sept 27, 2012.

Jan Hladký, an experimental...

www.fjfi.cz, 7.8.2011.

The Seventh International Conference...

HiPER News, 3.6.2010.

Members of the HiPER community gathered...

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminar Tuesday, 21/09/2010 14:00 - 15:00

Speakers: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Place: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Presented in English
Organisers: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Attachments:

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.