Fyzikální ústav Akademie věd ČR

AFM based characterization of inorganic and organic semiconductor nanostructures

Seminář Čtvrtek, 13.10.2011 14:00 - 16:00

Přednášející: Christian Teichert (Montan University, Leoben, Austria)
Místo: Cukrovarnicka, knihovna, budova A, 1.p.
Jazyk: anglicky
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Přílohy:

application/pdf ikonateichert.pdf

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.