Tam dole je spousta místa

Únorové číslo Akademického bulletinu představí ve stejnojmenném článku laboratoř NANOSURF, jež se pod vedením dr. Pavla Jelínka z Fyzikálního ústavu AV ČR snaží pomocí kombinace rastrovacích mikroskopů s atomárním rozlišením a teoretických výpočtů na bázi DFT nejen o hlubší porozumění transportním a mechanickým vlastnostem nanostruktur, ale také o rozvoj techniky rastrovacích mikroskopů. Právě kombinace experimentálních a teoretických technik umožňuje zdejším badatelům hlubší pochopení studovaných procesů a materiálových vlastností. Historie rastrovacích mikroskopů ve FZÚ začala v roce 1997, kdy byl v oddělení Tenkých vrstev a nanostruktur instalován první rastrovací mikroskop s atomárním rozlišením pracující v ultravysokém vakuu s proměnnou teplotou.

                          
 

Foto: Stanislava Kyselová, Akademický bulletin

                                                                                             

Mikroskop se využíval zejména pro studium atomární a elektronové struktury polovodičových povrchů a fyzikálních vlastností nanokrystalického křemíku pro fotovoltaickou přeměnu sluneční energie. V roce 2008 byl přístroj modernizován; původní rastrovací hlavu přístroje nahradil novější model, který umožňuje měřit současně tunelovací (STM) proud a atomární síly (AFM) s atomárním rozlišením. Právě kombinace AFM a STM měření je jedním z progresivních trendů rastrovacích mikroskopů, který otevírá nové možnosti při pokročilé charakterizaci nanostruktur i hlubší pochopení fyzikálních procesů na atomární úrovni.

Koncem roku 2013 byl zprovozněn unikátní mikroskop, jenž umožňuje AFM/STM měření při teplotě nižší než dva Kelviny s magnetickým polem až tři Tesla. Zařízení je svými parametry světově unikátní a otevírá nové perspektivy v oblasti základního výzkumu materiálových a fyzikálních vlastností povrchů pevných látek a nanostruktur s atomárním a subatomárním rozlišením.

Plnou verzi článku naleznete na http://abicko.avcr.cz/2014/02/04/index.html .