Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Seminář o Scanning Microwave Microscopy

Seminář Úterý, 17.04.2012 10:00 - Středa, 18.04.2012 12:00

Místo: Fyzikální ústav AV ČR, Cukrovarnická 10, Praha 6, zasedací místnost, budova B
Jazyk: anglicky
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Program Semináře o Scanning Microwave Microscopy.

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.