|
Heterostruktury a nanostruktury polovodičů III-V pro nové elektronické a fotonické aplikace
Období: 2012-01-01 - 2013-12-31
|
|
Úloha rozhraní při přípravě Schottkyho bariér vysoké kvality na polovodičích III-V
Období: 2012-01-01 - 2013-11-30
|
|
Balistická elektronová emisní mikroskopie a spektroskopie kvantových InAs teček připravených různými technologiemi
Období: 2011 - 2013
|
|
Skutterudite supermřížky pro termoelektrické aplikace
Období: 2010-01-01 - 2012-12-31
|
|
Výzkum kovových nanočástic elektroforeticky deponovaných na polovodičové sloučeniny III-V-N
Období: 2010-01-01 - 2012-12-31
|
|
Nanostruktury řízených rozměrů
Období: 2008-01-01 - 2010-12-31
|
|
Pomalá iontově-vyvolaná kanetická elektronová emise z kovů a polovodičů
Období: 2010-01-01 - 2012-12-31
|
|
Kompenzace neizoperiodičnosti v heteropřechodech na mikro a nanoporézních polovodičích A3B5 a depozice kovů a polovodičů do mikropórů
Období: 2010-01-01 - 2010-12-31
|
|
Kovové nanovrstvy pro polovodičové čidlo a detekční sktruktury
Období: 2009-01-01 - 2011-12-31
|
|
Úloha přechodových kovů a prvků vzácných zemin v přípravě materiálů na bázi InP pro detektory záření
Období: 2009-01-01 - 2011-12-31
|
|
Zkoumání využití jodidu olova pro rentgenové detekce (bilaterální projekt s DFG Německo)
Období: 2008-01-01 - 2010-12-31
|
|
Speciální skelné materiály pro fotonické aplikace
Období: 2008-01-01 - 2010-12-31
|
|
Micro-Faraday array detektor s vysokým dynamickým rozsahem pro multikolekční izotopický SIMS
Období: 2007-01-01 - 2010-12-31
|
|
Epitaxní vrstvy InP připravené z taveniny obsahující prvky vzácných zemin: růst, charakterizace a aplikace v detektorech záření
Období: 2008-01-01 - 2010-12-31
|
|
Pravidelné disperzní fotonové součásti pro kontrolu spektrálních, prostorových a časových charakteristik laserové diody záření - "Brightlight"
Období: 2007-01-01 - 2009-12-31
|
|
Characterization of Low Defect Density Native Gallium Nitride Materials
Období: 2007-12-31 - 2009-12-31
|
|
Ternární skutterudity pro termoelektrické aplikace: od objemových vzorků k tenkým vrstvám
Období: 2007-01-01 - 2009-12-31
|
|
Iontově indukovaná kinetická elektronová emise z kovů
Období: 2007-01-01 - 2008-12-31
|
|
Studie InP rozhraní s kovovými nanočásticemi pro monitorování plynů a záření znečišťujících látek v životním prostředí
Období: 2006-01-01 - 2008-12-31
|
|
Využití specifických vlastností vzácných zemin při přípravě struktur InP detektorů záření
Období: 2006-01-01 - 2008-12-31
|
|
Speciální skla a vlákna pro aplikace v infračervené oblasti
Období: 2005-01-01 - 2007-12-31
|
|
Deposice epitaxních vrstev na/v porezních polovodičích A3B5
Období: 2006-01-01 - 2007-12-31
|
|
Elektronová a iontová emise z bodového kontaktu na povrchu pevných látek
Období: 2004-01-01 - 2007-12-31
|
|
Prostorově rozlišená balistická elektronová emisní spektroskopie na jednotlivých InAs/GaAs kvantových tečkách uzavřených mezi AlGaAs barierami
Období: 2005-01-01 - 2007-12-31
|
|
Studium vlivu příměsí na elektrické a optoelektronické vlastnosti krystalů PbI2 pěstovaných z taveniny
Období: 2004-01-01 - 2006-12-31
|
|
Kvantitativní analýza prvků vzácných zemin v InP pomocí metody SIMS
Období: 2006-02-01 - 2006-12-31
|
|
Tvorba a charakterizace samoorganizovaných pórů v heterostrukturách InGaP/GaAs
Období: 2003-10-01 - 2005-12-31
|
|
Optická biopsie v diagnostice kolorektální rakoviny
Období: 2003-01-02 - 2005-12-31
|
|
Detektory RTG záření na bázi InP
Období: 2003-04-01 - 2005-12-31
|
|
Využití prvků vzácných zemin při přípravě polovodičových materiálů na bázi InP a PbI2 pro detekci ionizujícího záření
Období: 2003-01-01 - 2005-12-31
|
|
Pyroelektrické senzory pro aplikace v ekologii, chemii, lékařství a ve vojenství
Období: 2002-01-01 - 2005-12-31
|
|
Příprava radiačně odolných solárních článků z GaInP2/GaAs
Období: 2002-08-01 - 2004-12-31
|
|
Speciální skla pro optoelektroniku
Období: 2002-01-01 - 2004-12-31
|
|
Pokročilé ferroelektrické materiály na bázi hybridních organicko-anorganických komponent
Období: 2002-01-01 - 2004-12-31
|
|
Studium velmi tenkých Bi2Te3 vrstev připravených laserovou ablací a jejich modifikace pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu (STM)
Období: 2002-01-01 - 2004-12-31
|
|
Elektronická interakce mezi ionty kovů a povrchy pevných látek
Období: 2001-07-01 - 2003-12-31
|
|
Advanced ion-beam based technologies-hard ceramic coating and ceramic ferroelectrics
Období: 1997-01-01 - 2002-12-31
|
|
Elektronová emise způsobená dopadem iontů na povrchy materiálů perspektivních pro výzkum termojaderné syntézy
Období: 2001-01-01 - 2002-12-31
|
|
Iontová a elektronová emise z pevných látek
Období: 1999-01-01 - 2001-12-31
|
|
Experimentální a teoretické studium el. Excitací v pevných látkách vzniklých během atomárního rozprašování a rozptylu
Období: 1997-06-01 - 2001-12-31
|
|
Semiizolační monokrystaly fosfidu inditého dotovaného přechodovými prvky
Období: 1999-01-01 - 2001-12-31
|
|
Electron and ion emission from tokamak-first-wall materials induced by impact of atomic particles
Období: 2001-01-01 - 2001-12-31
|
|
Povrchová migrace a rekonstrukce v kinetice růstu vrstev A3B5 a návrh modelu pro výpočet koncentrace bodových poruch v technologii MO VPE
Období: 1999-01-01 - 2001-12-31
|
|
Vliv vzácných zemin na přípravu a vlastnosti polovodičových materiálů typu AIIIBV
Období: 1999-01-01 - 2001-12-31
|
|
Příprava a charakterizace polovodičových epitaxních MOVPE vrstev a struktur na bázi GaSb
Období: 1998-09-01 - 2001-08-31
|
|
Vznik vícenásobných iontů a elektronické efekty při odprašování iontových sloučenin při nízkých energiích
Období: 1999-01-01 - 2000-12-31
|
|
Slow ion induced electron emission and surface modification for insulators
Období: 1999-01-01 - 2000-12-31
|
|
Studium perspektivních polovodičových materiálů a struktur pomocí balistické elektronové emisní mikroskopie/spektroskopie a kontaktního profilometru
Období: 1997-01-01 - 1999-12-31
|
|
Spolupráce ve vědě a technologii se středoevropskými a východoevropskými zeměmi a s novými nezávislými státy z bývalého Sovětského svazu
Období: 1997-01-01 - 1999-12-31
|
|
Charakterizace supermřížek a ultra-mělkých vrstev v polovodičích pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu a kontaktního profilometru
Období: 1994-01-01 - 1996-12-31
|
