Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Činnost

Základní tématem oddělení je fyzikální, chemická a strukturní nano-charakterizace pomocí unikátního komplexu měřicích metod (Omicron qPlus VT UHV AFM/STM, Veeco Nanoscope IV Dimension 3100 a NT-MDT NTEGRA AFM v kombinaci s mikrospektroskopií Ramanova rozptylu Renishaw inVia Reflex). Výzkum oddělení se soustřeďuje na témata řešená v rámci národních a mezinárodních projektů:
Podílíme se na těchto výzkumných, výukových a popularizačních aktivitách:
  • Expertní a výukové centrum rastrovací sondové mikroskopie (SET-Center)
  • Material Science Beamline (at Elettra)
  • Vrtuální výzkumný centrum pro uhlíkové biomateriály a biorozhraní (CABIOM)
  • Centrum nanotechnologií a materiálů pro nanoelektroniku
  • Czech NanoTeam
  • Mezinárodní letní škola Physics at Nanoscale
a další...

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.