Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of oxide thin films

Seminář Čtvrtek, 23.07.2009 10:00

Přednášející: Ausrine Bartasyte (Clarendon laboratory, Oxford University)
Místo: Na Slovance, přednáškový sál v přízemí
Jazyk: anglicky
Pořadatelé: Oddělení dielektrik

Copyright © 2008-2010, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.