Laboratoř pro elektrickou charakterizaci materiálů

Měření volt-ampérových (I-V) charakteristik a charakteristik
kapacita-napětí (C-V). T = 77-430 K

Měření  volt-ampérových (I-V) a CV charakteristik (T=77-430K)

Vysokonapěťová zdrojová a měřící jednotka (Keithley
237 and 236);

C-V analyzátor (Keithley 237),

Regulátor teploty (LakeShore 330),

Dusíkový kryostat.

 

 

Měření teplotně závislého Hallova jevu (T=10-430K)

Měření teplotně závislého Hallova jevu (T=10-430K)

Digitální multimetr (Keithley 2000);

Regulátor teploty (LakeShore 340);

Pikoampérmetr (Keithley 486);

Heliový kryostat.

 

 

 

Charakterizace detektorů záření

Charakterizace detektorů zaření

Zařízení ORTEC pro měření detektorů, skládající se z nábojově citlivého předzesilovače 142A, tvarovacího zesilovače 572A,
8k multikanálového zesilovače PCI Trump Card a emulačního software MAESTRO-32.

Tranzientní spektroskopie hlubokých hladin (Sula Technologies).

Tranzientní spektroskopie hlubokých hladin

Tranzientní spektroskopie hlubokých hladin (Sula Technologies).

Měřící módy
zahrnují: C-V, C-T, I-V, I-T, DLTS, DDLTS.

Teplotní rozsahy: 77 K až 420 K.

 

 

 

 

Kontaktujte nás

Datová schránka: m54nucy

IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882

Sledujte nás

LinkedInFacebook