Thermal stability study of semimetal graphite n-InP and n-GaN Schottky diodes.

Autoři publikace: 
Yatskiv, R.
Grym, J.
Rok: 
2013
DOI: 
10.1088/0268-1242/28/5/055009
Bibliografický formát: 

Yatskiv, Roman ; Grym, Jan. Thermal stability study of semimetal graphite n-InP and n-GaN Schottky diodes. Semiconductor Science and Technology (2013)

Tým: 
Příprava a charakterizace nanomateriálů
ASEP

Kontaktujte nás

  • +420 266 773 400

Datová schránka: m54nucy

IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882

Sledujte nás

LinkedInFacebook