Český rozhlas Vltava, 18.1.2012.
Moderní skenovací či rastrovací tunelovací mikroskopy a mikroskopy atomárních sil dovolují zkoumat povrchy látek v atomárním rozlišení a hlouběji studovat fyzikální a chemické procesy na atomární úrovni. Tyto poznatky jsou nezbytné i pro budoucí technologické využití uhlíkových materiálů.
Tým doktora Pavla Jelínka z oddělení tenkých vrstev a nanostruktur Fyzikálního ústavu Akademie věd ve spolupráci se španělskými kolegy zásadním způsobem přispěl k pochopení atomárně rozlišených obrázků grafenu a uhlíkových nanotrubiček.
Celý článek na stránkách Českého rozhlasu 3.
Copyright © 2008-2014, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
