Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminar Tuesday, 21/09/2010 14:00 - 15:00

Speakers: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Place: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Presented in English
Organisers: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Attachments:

Copyright © 2008-2014, Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.