Přístrojové vybavení

Náš ústav disponuje širokým spektrem analytických technik nezbytných pro charakterizaci pevných látek. Přístroje slouží převážně pro výzkum prováděný na ÚACH a vědecké spolupráce s partnery z výzkumných institucí a vysokých škol. Volná kapacita přístrojů je využita pro průmyslové partnery a zájemce z odborné veřejnosti.

Elektronová mikroskopie

• HRSEM (FEI Nova NanoSEM 450), kontakt: V. Štengl
• SEM (Jeol  JSM -6510lv, Philips XLCP40), kontakt: Jan Šubrt
  • zobrazení SE, BSE, EDS, WDS, měření tloušťky vrstev
• TEM (Philips EM201), kontakt: Jan Šubrt
  • zobrazení, elektronová difrakce
• HRTEM (Jeol JEM-3010), kontakt: Jan Šubrt
  • zobrazení (BF, DF, HRTEM), elektronová difrakce, EDS, mapování orientace krystalů a fázového složení vzorků, vysokoteplotní a nízkoteplotní meření
• příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii

• mechanické a iontové ztenčování, ultramikrotom

AFM-STM mikroskopie atomárních sil a řádkovací tunelovací mikroskopie

Bruker Dimension Icon, kontakt: V. Štengl

AFM - Měření topografie pomocí mikroskopie atomárních sil (zobrazení povrchů vzorků s vertikálním rozlišením pod 1 nm)
MFM Měření magnetických vlastností vzorků
STM Měření elektrických vlastností pomocí tunelovací mikroskopie

Rtg difrakce

• dva práškové difraktometry (X'PertPRO MPD), kontakt: Petr Bezdička
  • kvalitativní a kvantitativní RTG difrakce
  • reflexní a transmisní geometrie
  • mikrodifrakce
  • vysokoteplotní měření
  • stanovení amorfního podílu

Termická analýza s hmotnostní spektrometrií

Kontakt: Eva Večerníková

• Setaram, Netzsch (20-1600°C)

Infračervená spektroskopie

• Nicolet Avatar (Mid IR (4000-400 cm^-1) a Far IR (400-50 cm^-1)), kontakt: Eva Večerníková
• Thermo Nicolet Nexus 670 FTIR spectrometer (Mid IR (4000- 400 cm^-1), kontakt: V. Štengl
  • difúzně reflexní spektra
  • transmisní spektra na substrátu Si, ZnSe, CaF a safíru
  • reflektanční spektra pomocí krystalu ATR (ZnSe)

Analýza povrchů

• Beckman Coulter SA3100, kontakt: V. Štengl
  • Single and Multipoint BET
  • Langmuir Surface Area
  • Adsorption and Desorption Isotherms
  • B.J.H. Pore Size analysis
  • MP and T-Plot methods
• Quantachrome Instruments NOVA 4200e, FloVac Degasser, kontakt: Jan Šubrt

Granulometrie

Malvern Zetasizer: Stanovení distribuce velikosti částic 0,1 nm - 0,01 mm, kontakt: V. Štengl

Mössbauerova spektroskopie

Kontakt: Adriana Lančok

• spektrometr WISSEL pro transmisní uspořádání při pokojové teplotě
• kryostat JANIS pro nízkoteplotní měření
• CEMS spektrometr
• pícka WISSEL pro měření v teplotním rozsahu 20 – 900 ^oC