Experimentální zařízení

Zařízení pro žárové nanášení a slinování

vodou stabilizovaný plazmový hořák WSP^® 500 a hybridní hořák WSP^®-H 500 (ÚFP AV ČR) vybavené podavači prášků a suspenzí/roztoků do plazmatu
nanášení drátů plamenem AD3 (Kovofiniš, Česká republika), vhodné pro Al, Cu a mosaz
tryskací box
slinování prášků metodou SPS "Spark Plasma Sintering" - model SPS 10-4 (Thermal Technology LLC, USA)

Diagnostika žárového nanášení

měření teploty a rychlosti částic za letu DPV 2000 (Tecnar, Kanada)
kamera pro sledování a integrální analýzu proudu částic PlumeSpector (Tecnar, Kanada)
stínografie SprayCam (Control Vision Inc, USA)
pyrometr, termokamera a bezdrátové termočlánky pro měření teploty během nanášení

Příprava a analýza prášků

Metalografická laboratoř

nízkorychlostní přesná pila VARI/CUT VC-50 (Leco, USA)
vysokorychlostní přesné pily TechCut 5 (Allied, USA) a Secotom-50 (Struers, Dánsko)
vakuová impregnace vzorků
Lis pro zalévání vzorků do pryskyřice za tepla
manuální leštička vzorků MTH Kompakt 1031 (MTH Hrazdil, ČR)
automatická leštička vzorků TF 250/AUTOMATA Pressair (Jean Wirtz, Německo)
automatická leštička vzorků Tegramin 25 (Struers, Dánsko)
Vibrační leštička VibroMet 2 (Buehler, USA)
Iontová leštička RES 101 (BAL-TEC AG, Lichtenštejnsko)
uhlíková napařovačka BA350N (Balzers, Lichtenštejnsko)
naprašovačka tenkých zlatých vrstev ScanCoat Six (Edwards, UK)

Světelná mikroskopie

Invertovaný světelný mikroskop Neophot 2 s tvrdoměrem
Invertovaný světelný mikroskokp Neophot 32 (Carl Zeiss, Německo) s digitálním záznamem obrazu
stereomikroskopy s digitálním záznamem
systém pro digitalizaci, zpracování a analýzu obrazu LUCIA (Laboratory Imaging, ČR)
digitální makrofotografie

Elektronová mikroskopie

200 kV transmisní elektronový mikroskop JEOL 2000EX (Jeol, Japonsko)
řádkovací elektronový mikroskop EVO MA 15 (Carl Zeiss SMT, Německo) s LaB₆ katodou. Systém Quantax (Bruker, Německo): Energiově-disperzní detektor pro rentgenovou spektroskopii (EDS) SDD detektor XFlash® 5010 a EBSD detektor e-Flash^HR+ se systémem ARGUS. In-situ mikrotrhačka Microtest 200 N (Deben, UK)

Termální analýza a tepelná úprava

termogravimetrická diferenční analýza - Setsys TG-DTA 92 do 1750 °C (Setaram, Francie)
termogravimetrická diferenční analýza – Bahr STA 504 do 1700 °C (Bahr, Německo)
dilatometr Setsys 16/18 do 1750 °C (Setaram, Francie)
měření teplotní vodivosti – Flashline 3000 do 1100°C (Anter, USA)
programovatelná pec do 1400 °C, 21x16x11cm (Clasic, Česká republika)
programovatelná pec do 1800 °C s ochrannou atmosférou Linn HT 1800 (Linn High Therm, Německo)

Rentgenová difrakce

difraktometr D8 Discover (Bruker, Německo) s 1D detektorem LynxEye, teplotní komůrkou MRI umožňující měření až do 1600 °C v prostředí inertního plynu i vysokého vakua, polykapilárou pro lokální mapování povrchu s průměrem ozářené oblasti od 1 mm do 100 mikronů, otevřenou texturní Eulerovou kolébkou, rotačním držákem vhodným pro určení kompletního tenzoru makroskopické zbytkové napjatosti či měření fázového složení u hrubozrnných materiálů a systémem XYZ stolků pro polohování reálných vzorků
difraktometr D 500 (Siemens, Německo)

Měření hustoty a pórovitosti

Mechanické zkoušky

univerzální trhací stroj Instron 1362 s elektronikou řady 8800 (Instron, UK), přípravky pro tříbodový ohyb, čtyřbodový ohyb, zkoušení adheze dle C633, EN 15340, pin test, TCT test,
univerzální mikrotvrdoměr Nexus 4504 (Innovatest, Nizozemí)
zařízení na zkoušky otěrem SAR test (Slurry Abrasion Response), podle ASTM G75

Fyzikální vlastnosti

LCR metr Agilent 4263B s adaptérem Agilent 16451B (Keysight, USA) pro měření dielektrických vlastností
Elektrometr Keithley 6717A s adaptérem 8101 (Keithley, USA) pro měření resistivity
Přímý měřič d₃₃ koeficientu JZ-4B (H.C. Materials Corp., China)
povrchové drsnoměry Surtronic 3P (Rank Taylor Hobson Ltd., UK) a SJ-210 (Mitutoyo, Japonsko)