Laboratoř charakterizace nanostruktur

Vybavení:nano lab 1

  • mikroskop atomárních sil - AFM (MultimodeTM, Veeco, USA)
  • elipsometr (SE 850, Sentech, Německo)
  • optický profilometr (NewView7300, ZYGO, USA)

 

nano lab 2

Kontaktujte nás

Datová schránka: m54nucy

IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882

Sledujte nás

LinkedInFacebook