Fyzikální ústav Akademie věd ČR

Seminář Středa, 11.11.2015 15:00 - 17:00

Přednášející: Aleš Jäger (Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.)
Místo: Přednáškový sál FZÚ, Cukrovarnická 10, Praha 6, budova A, 1. patro
Jazyk: česky
Pořadatelé: FZÚ AV ČR

Elektronová mikroskopie patří k nejvšestrannějším technikám pro analýzu mikrostruktury pevných látek. Interakcí elektronového svazku s pevnou látkou vzniká množství signálů, které nesou informaci např. o morfologii, chemickém složení, krystalové struktuře, poruchách krystalové mříže a chemických vazbách. Podle fyzikální podstaty tvořeného obrazu dělíme elektronovou mikroskopii na dva základní druhy, transmisní elektronovou mikroskopii (TEM) a řádkovací elektronovou mikroskopii (SEM). Zatímco u TEM je obraz tvořen elektrony, které pronikají velmi tenkým preparátem, SEM se využívá pro zobrazení a analýzu povrchů téměř libovolně velkých vzorků. Na konkrétních příkladech probereme možnosti elektronových mikroskopů instalovaných v Oddělení progresivních strukturních materiálů. Dozvíte se, k čemu a jak lze použít vybrané techniky elektronové mikroskopie při výzkumu materiálů. Přednáška nepředpokládá hlubší znalosti elektronové mikroskopie.

Přílohy:

Seminář Aleš Jäger 11.11.2015