15. ročník mezinárodní konference Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

Ve dnech 29. května až 3. června 2016 proběhne jubilejní

15. ročník mezinárodní konference
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation.

Tématem budou současné trendy v elektronové optice a přístrojové technice pro povrchovou fyziku. Setkání pořádá tradičně jedenkrát za dva roky oddělení Elektronové mikroskopie Ústavu přístrojové techniky AV ČR. Letošní ročník proběhne za podpory projektu Strategie AV21 “Diagnostické metody a techniky“, jehož hlavním organizátorem je Dr. F. Mika.

K účasti jsou zváni významní vědci z tohoto oboru ale i jejich nadějní studenti, či začínající pracovníci, kteří působí v akademické sféře nebo ve spolupracujících firmách. Témata jejich příspěvků se soustředí více na zahajované nebo budoucí projekty a dosud nezodpovězené otázky než na prezentaci již hotových výsledků.
 

Nosnými tématy letošního setkání jsou současné i budoucí trendy v rastrovací (SEM), prozařovací (TEM), nízkoenergiové (LEEM), elektronové mikroskopii a fotoemisní mikroskopii (PEEM). Dále výpočty elektronově optických prvků, aplikace a návrhy mikroskopických systémů SEM, TEM, LEEM a PEEM.

Hovořit se bude i o pokrocích dosažených v optických mikromanipulačních technikách a zobrazování optickými metodami.
Za dobu existence si seminář našel své místo v kalendáři mnohých domácích i zahraničních účastníků. V letošním roce se můžeme těšit na příspěvky významných osobností jako je Prof. Harald Rose z Univerzity Ulm, Prof. John Redenburg, Prof. Anjam Khursheed nebo Prof. Ute Kaiser, kteří přislíbili účast na letošním červnovém setkání v příjemném prostředí hotelu Skalský dvůr u Bystřice nad Pernštejnem.

Více na: www.trends.isibrno.cz