Podrobnou analýzou ablačních otisků, tedy oblastí materiálu poškozených rentgenovým laserem, jsme prokázali silnou vazbu morfologie kráterů vytvořených v PMMA - poly(methyl metakrylát)u na reálnou prostorovou strukturu (prostorové rozložení intenzity) jinak obtížně diagnostikovatelných fokusovaných rentgenových svazků. Hlavním výstupem této práce je zatím metoda [1], kterou dále rozvíjíme a vylepšujeme, umožňující rekonstrukci profilu intensity rentgenových svazků úspěšně uplatněná na zařízení FLASH (DESY/Hamburg) při charakterizaci sub-mikronového fokusovaného rentgenového svazku [2,3] a LCLS (Linac Coherent Light Source) v USA při měření svazků na ještě kratších vlnových délkách [4,5].
Literatura:
1. J. Chalupský a kol.: Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids, Opt. Express
15, 6036 (2007).
2. B. Nagler a kol.: Turning solid aluminium transparent by intense soft X-ray photoionization, Nat. Phys.
5, 693 (2009).
3. A. J. Nelson a kol.: Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions, Opt. Express
17, 18271 (2009).
4. A. Barty a kol.: Predicting the coherent X-ray wavefront focal properties at the Linac Coherent Light Source (LCLS) X-ray free electron laser, Opt. Express
17, 15508 (2009); naše metoda je tam uvedena pod cit. 17.
5. L. Young a kol.: Femtosecond electronic response of atoms to ultra-intense X-rays, Nature
466, 56 (2010); výše popsaná metoda je tam citována jako ref. 26.
