«JUN
AUG
OCT »
5
«2016
2017
2018 »
133 captures
5 Apr 14 - 1 Nov 24
Close
Help
Přejít k hlavnímu obsahu
Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
Čeština
English
Vyhledávání
Hledat
Domů
Ústav
Profil pracoviště
Struktura
Úspěchy
Publikace
Veřejné zakázky
Výroční zprávy
Zveřejňování rozpočtu a výhledu rozpočtu instituce
Informace ze zákona
Výzkum
Optické biosenzory
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Vláknové lasery a nelineární optika
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Příprava a charakterizace nanomateriálů
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Spolupráce
Laboratoře
Bioelektrodynamika
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Volné pozice
Spolupráce
Laboratoře
Nano-optika
Zaměření
Pracovníci
Volné pozice
Laboratoř Státního etalonu času a frekvence
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Data
Veřejnost & Média
Aktuality
Média
Photogallery
Kariéra
Diplomové práce
Dizertační práce
Ostatní studentské práce
Volné pozice
Kontakt
Intranet
Domů
→
Výzkum
→
Optické biosenzory
→
Laboratoře
→ Laboratoř charakterizace nanostruktur
Laboratoř charakterizace nanostruktur
Vybavení:
mikroskop atomárních sil - AFM (MultimodeTM, Veeco, USA)
elipsometr (SE 850, Sentech, Německo)
optický profilometr (NewView7300, ZYGO, USA)